高分辨透射电子显微镜

JEM-2010

日本电子公司

透射电镜是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像，投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。该设备包含有TEM﹑EDS﹑NBD﹑CBD工作模式，可观察材料的质厚衬度像，衍射衬度像和高分辨电子显微像；可获得不同取向的电子衍射花样；可进行微区成分分析。

加速电压：80-200kV

电子枪：LaB6晶体

能谱仪：Link-Inca超薄窗口能谱仪

放大倍率：50-150万倍

分辨率：点分辨率≤0.23nm，线分辨率=0.14nm

加速电压稳定性：≤2ppm

物镜电流稳定性：≤1ppm

物镜色差系数：≤1.4mm　　 

物镜球差系数：≤1.0mm

束斑尺寸:TEM   mode: 优于20nm　　

EDS/NBD/CBD mode: 优于1.0nm

建议提供文献图片或者以前做过的图片，如果没有，检测要求需详细填写。样品可提供20张左右图片：即筛选出三个比较好的区域，每个区域提供3-4张不同放大倍数满足测试要求的图片，对于找不到符合测试要求的区域的样品，我们将会多拍一些区域以证明样品的真实情况！寄送样品质量大于20 mg。