仪器名称

场发射透射电子显微镜

仪器型号

Tecnai   G2 F20

生产厂家

美国FEI公司

仪器简介

Tecnai G2   F20是一个多功能、多用户环境的200 kV工具。它以其将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、Lorentz透镜、STEM、EDX/EELS频谱成像等)方便灵活地有机组合,   形成强大的分析功能 。

技术参数

加速电压：200 kV                   放大倍数：小于105万倍

点分辨率：0.24 nm                   线分辨率：0.14 nm

STEM (HAADF)分辨率：0.19 nm     电子束能量色散：<0.7   eV

束流：>100 nA                  1 nm束斑束流：>0.5 nA

样品倾斜角：-40°~+40°         能量分辨率：~130   eV (Mn K线)

EDAX能谱仪 (EDS)：5B~92U

设备功能

主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究，仪器的功能包括：

1、电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射

2、成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像   (HREM)、扫描透射像

3、微区成分：EELS和EDS能谱的点、线和面分析

4、微区化学：EELS的元素价态、化学键、配位结构和电子结构分析

检测案例一（高分辨）

检测案例二

(Mapping)

检测案例三

（衍射）

送样要求

建议提供文献图片或者以前做过的图片，如果没有，检测要求需详细填写。样品可提供20张左右图片：即筛选出三个比较好的区域，每个区域提供3-4张不同放大倍数满足测试要求的图片，对于找不到符合测试要求的区域的样品，我们将会多拍一些区域以证明样品的真实情况！寄送样品质量大于20 mg。